如今，許多行業(yè)正在通過(guò)多功能臺(tái)式掃描電子顯微鏡（SEM ）自動(dòng)化其質(zhì)量控制流程。通過(guò)流程自動(dòng)化，用戶可以避免耗時(shí)的任務(wù)并減少人為失誤的風(fēng)險(xiǎn)，從而確保優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品到達(dá)客戶手中。

重復(fù)的工作流程會(huì)拖延您的時(shí)間嗎？數(shù)據(jù)收集和分析是否繁瑣耗時(shí)？借助飛納臺(tái)式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL G2，您可以快速獲得所需的準(zhǔn)確信息，減少故障，避免延誤，保持生產(chǎn)過(guò)程順利進(jìn)行。

在網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)中，我們展示了如何使用新一代自動(dòng)化掃描電鏡來(lái)改善質(zhì)量控制過(guò)程。

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· 獲得所需的質(zhì)量信息，提早發(fā)現(xiàn)故障，迅速調(diào)整生產(chǎn)過(guò)程。
· 通過(guò)飛納全自動(dòng)臺(tái)式掃描電鏡（SEM），使質(zhì)量控制自動(dòng)化，提高生產(chǎn)效率，減少人為失誤。
· 全新的易于學(xué)習(xí)的界面可以幫助您快速掌握新信息，是各種應(yīng)用的理想選擇。